개요

EPS-3007은 실장 PCB 기판으로 부터 발생되는 방사 전자계를 X-Y axis 안테나 Probe로 근접 측정하여, 그래프, 분포도, 조감도 등을 PC의 Monitor상에 표시해 줌으로써 실장 PCB기판의 방사전자계 (Emission) 상태를 한눈에 파악 할 수 있도록 해준다. 전기전자 기기에 들어 있는 PCB기판상의 부품이나 배선이 유력한 Emission 발생원이기 때문에, PCB기판상에서 부품이나 배선에서 발생하는 Emission을 간단히 측정할수 있다면, Emission 대책이 쉽고 시간과 비용을 대폭 절약 할 수 있으며, 이러한 용도로서 EMC PRECISION SCAN은 최적의 장비라 할 수 있다.   특징   - Emission 검출용 안테나는 30MHz∼1.5GHz (Option, 30MHz∼3GHz, 100KHz∼150MHz) 주파수 범위를 측정 할수 있고, PCB기판 바로 아래에서 근접하게 주사시키므로, PCB기판에서 발생하는 Emission의 발생장소와 분포를 측정 할 수 있다. 또한 하나의 안테나를 주사시켜서 측정하는 방식이기 때문에 최대 측정 영역(350mm x 300mm)의 전역에 걸쳐서 정확하고 균일한 측정 결과를 얻을 수 있다. - Emission을 측정한 후, Spectrum을 그래프로 표시해 줌으로써 대책이 필요한 주파수를 쉽게 찿아 낼 수 있다. - Emission 대책이 필요한 주파수의 범위를 지정하면서 측정 할 수 있으며, Scanning후, 주사 영역내의 최대 Emission 발생 장소를 표시해 준다. - 측정된 Data는 TV 카메라로 촬영한 PCB기판의 실제 화상과 합성하여 전파의 강도에 따라 색으로 표시된 Emission의 분포 화상, 또는 입체적(3차원)으로 모니터에 Display 된다. - EMI 대책전과 대책후의 비교기능, 측정 Data의 filing 기능, Super zoom기능 및 기타 다양한 기능들을 갖추고 있다. - LSI MEASURMENT OPTIN(3000en)을 추가하여 LSI등의 평면 부품의 Emission을 측정할 수 있다.     Option - LF PROBE, 01-00035A - LSI MEASURMENT OPTION, 3000en - MAGNETIC FIELD PROBE, 01-00048A - ELECTRIC FIELD PROBE, 01-00046A     Spec